Titlebook: Handbuch Festk?rperanalyse mit Elektronen, Ionen und R?ntgenstrahlen; Otto Brümmer,Johannes Heydenreich,Helmut Günther S Book 1979 VEB Deu

迫擊炮

割讓

同謀

時代錯誤

Insufficient

Elektronenstrahl-Mikroanalyse,ission entsteht einerseits durch das Abbremsen der Teilchen im Coulomb-Feld der Atome, wobei eine elementunspezifische kontinuierliche Strahlung, die R?ntgenbremsstrahlung, auftritt. Die unelastische Wechselwirkung energiereicher Teilchen mit den Atomen führt andererseits zur Ionisation kernnaher El

parasite

,Hochaufl?sende R?ntgenspektroskopie, der R?ntgenmikro- und -fluoreszenzanalyse. Diese Methoden gestatten den qualitativen und quantitativen Elementnachweis aus der Lage und Intensit?t von prim?r oder sekund?r angeregten R?ntgenspektren des untersuchten Festk?rpers. Die Spektren werden dabei als charakteristisch für die erzeugenden Ato

scrutiny

,Festk?rperanalyse mittels ioneninduzierter R?ntgenstrahlung,ristischer R?ntgenstrahlung der Substratatome. Dieser Proze? der ioneninduzierten R?ntgenemission, der bereits 1912 von CHADWICK [1] entdeckt wurde, wird in wachsendem Ma?e für die Festk?rperanalyse genutzt.

過度

Beugung schneller Elektronen (HEED),, deren Lage und St?rke charakteristisch für die Anordnung der Atome im Kristallgitter bzw. in den Molekülen ist. Diese als Elektronenbeugung oder Elektroneninterferenz bezeichnete Erscheinung beruht auf dem Wellencharakter der Elektronen. Die an den einzelnen Atomen entstehenden Streuwellen überlag

向外供接觸

Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie,arationstechnik, durchstrahlbare Objektfolien aus dem massiven Untersuchungsmaterial zu gewinnen, z. B. durch Einsatz chemischer bzw. elektrochemischer Abdünnverfahren oder durch gezielte Anwendung der Ultradünnschnitt-Technik. Untersuchungsm?glichkeiten für Objektfolien mit einer Dicke bis zu einig

漸變

,Oberfl?chen-Elektronenmikroskopie,technik m?glich ist, werden in zunehmendem Ma?e elektronenoptische Verfahren zur Direktabbildung von Oberfl?chen eingesetzt. Als wichtigste Verfahren sind in diesem Zusammenhang die Oberfl?chen-Rasterelektronenmikroskopie, die Emissionsmikroskopie und die Spiegel-Elektronenmikroskopie zu nenen. Die