Titlebook: Formal Methods: Foundations and Applications; 25th Brazilian Sympo Lucas Lima,Vince Molnár Conference proceedings 2022 The Editor(s) (if ap

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Yield Evaluation of a Soft-Configurable WSI Switch Networkirectly from the circuit layout provide yield estimates for each circuit piece. Such simulations predict that random point defects will cause less than 1% of the 1266-transistor switches to fail. Yield estimates for each circuit piece are used as inputs to a yield model to evaluate the fault tolerance of the entire design.

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