找回密碼
 To register

QQ登錄

只需一步,快速開始

掃一掃,訪問微社區(qū)

打印 上一主題 下一主題

SCIE期刊IEEE Design & Test 2024/2025影響因子:1.909 (IEEE DES TEST) (2168-2356). (ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC)(工程,電氣和

[復(fù)制鏈接]
樓主: 貪污
21#
發(fā)表于 2025-3-25 06:19:02 | 只看該作者
22#
發(fā)表于 2025-3-25 09:54:46 | 只看該作者
23#
發(fā)表于 2025-3-25 15:13:43 | 只看該作者
24#
發(fā)表于 2025-3-25 19:50:58 | 只看該作者
Submitted on: 06 February 2024. Revised on: 01 March 2024. Accepted on: 02 April 2024. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
25#
發(fā)表于 2025-3-25 23:25:49 | 只看該作者
26#
發(fā)表于 2025-3-26 01:20:03 | 只看該作者
27#
發(fā)表于 2025-3-26 06:21:46 | 只看該作者
Submitted on: 06 September 2005. Revised on: 01 November 2005. Accepted on: 23 December 2005. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
28#
發(fā)表于 2025-3-26 10:29:25 | 只看該作者
29#
發(fā)表于 2025-3-26 16:05:30 | 只看該作者
30#
發(fā)表于 2025-3-26 16:53:31 | 只看該作者
Submitted on: 24 February 2016. Revised on: 24 April 2016. Accepted on: 02 June 2016. ___________________IEEE Design & Test---IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
 關(guān)于派博傳思  派博傳思旗下網(wǎng)站  友情鏈接
派博傳思介紹 公司地理位置 論文服務(wù)流程 影響因子官網(wǎng) 吾愛論文網(wǎng) 大講堂 北京大學(xué) Oxford Uni. Harvard Uni.
發(fā)展歷史沿革 期刊點(diǎn)評(píng) 投稿經(jīng)驗(yàn)總結(jié) SCIENCEGARD IMPACTFACTOR 派博系數(shù) 清華大學(xué) Yale Uni. Stanford Uni.
QQ|Archiver|手機(jī)版|小黑屋| 派博傳思國際 ( 京公網(wǎng)安備110108008328) GMT+8, 2025-10-5 12:58
Copyright © 2001-2015 派博傳思   京公網(wǎng)安備110108008328 版權(quán)所有 All rights reserved
快速回復(fù) 返回頂部 返回列表
大化| 周至县| 乌审旗| 新竹县| 剑川县| 临西县| 邹平县| 洛川县| 维西| 禄丰县| 报价| 拉萨市| 武穴市| 大余县| 葫芦岛市| 八宿县| 达拉特旗| 赫章县| 利津县| 华坪县| 阳曲县| 南川市| 昌江| 泉州市| 额敏县| 镇江市| 黎平县| 安国市| 怀宁县| 乐都县| 新沂市| 连平县| 兴宁市| 合作市| 井陉县| 安图县| 东乡县| 临桂县| 建水县| 九龙县| 盐津县|